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반도체 소자의 입출력(I/O) 특성 측정

관리자 2025-12-02 조회수 449

반도체 소자의 입출력(I/O) 특성 측정

GS820은 채널 1에서 논리 IC의 게이트 입력에 전압 Vi를 인가하고, 채널 2에서 게이트 출력 전압 Vo를 측정하는 데 사용됩니다. 소스 및 측정 채널을 통해 게이트의 I/O 특성을 측정할 수 있습니다.



Tm Gs820 19





Measurement of I/O Characteristics of Semiconductor Devices

The GS820 is used to apply voltage Vi to the gate input of a logic IC from channel 1 and measure gate output voltage Vo on channel 2. The source and measure channels allow the I/O characteristics of the gate to be measured.


Tm Gs820 19

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