제품기초지식

디지털 오실로스코프를 사용하여 '실시간 보정' 파라미터 측정하기

정확한 상승 시간 측정이 더욱 쉬워졌지만, 오실로스코프뿐만 아니라 프로브로 인한 오차를 간과하기는 여전히 쉽습니다. 오실로스코프의 유한한 스텝 응답(상승 시간)으로 인한 오차는 종종 보정되지만, 프로브로 인한 오차는 간과되는 경우가 많습니다. 프로브는 고유한 상승 시간 특성으로 인해 자체적인 오차 발생 원인이 됩니다. 이 글에서는 대역폭이 알려진 가우시안 오실로스코프와 프로브를 사용하여 측정한 상승 시간을 분석합니다. 또한, DL9000 오실로스코프를 사용하여 체계적으로 실시간 보정 상승 시간 측정을 수행하는 방법을 살펴봅니다.

저역 통과 가우시안 주파수 응답을 갖는 테스트 시스템의 경우, 테스트 지점과 오실로스코프 디스플레이 사이의 모든 요소가 측정된 상승 시간에 영향을 미칩니다(1). DUT의 상승 시간, 프로브의 상승 시간 및 오실로스코프의 상승 시간은 다음과 같이 합산할 수 있습니다.

Making ‘Real-Time Corrected' Parametric Measurements using a Digital Oscilloscope

While accurate rise time measurements have become easier to make, it remains, nonetheless, quite easy to overlook error contributions due to not only the oscilloscope but also the probe. And, while the error contributed by a scope's finite step-response (rise time) is often accounted for, that contributed by the probe is often overlooked. The probe contributes its own source of error due to its own characteristic rise time. In this article, we will examine rise time measurements made while using a Gaussian scope and a probe, each of a known BW. Furthermore, we will look at how to make a systematic on-the-fly corrected rise time measurement using the DL9000 oscilloscope.

For a test system with a low-pass Gaussian frequency response, every element between the test point and the display of an oscilloscope contributes to the measured rise time (1). In the case of a DUT's rise time, a probe's rise time, and an oscilloscope's rise time, these three rise times may be summed by: