제품기초지식

고속 산란광 감소 기능
(SWITCH 스윕 기능)
산란광 감소 기능으로 더욱 빠른 측정이 가능해졌습니다!
고속 산란광* 감소 기능(SWITCH 스윕 기능)이 추가되어 측정 시간이 단축되었습니다. 기존 모델에 사용된 CHOP 기능과 비교했을 때, 산란광 감소 기능은 약 2.4배 더 빠릅니다.
측정 조건: SPAN: 0.5 nm, RES: 10 pm, SENS: HIGH1/SW, SAMPLE: AUTO

CHOP 스윕 기능에 비해 측정 속도가 약 2.4배 빠릅니다.

* 산란광은 광학 기기 및 그 홀더 내부의 광학 부품 표면에서의 반사 및 산란으로 인해 발생합니다. 이는 정상적인 굴절 및 반사 이외의 요인에서 비롯되므로 이미지 형성에 악영향을 미칠 수 있습니다.

High Speed Stray Light Reduction Function
New High Speed Stray Light Reduction Function!
(SWITCH Sweep Function)
Measurement with stray light reduction is faster!
A high speed stray light* reduction function (SWITCH sweep function) has been added, speeding up measurement times. When compared to the CHOP function used in conventional models, the stray light reduction function is Approximately 2.4 times faster.
Measurement conditions: SPAN: 0.5 nm, RES: 10 pm, SENS: HIGH1/SW, SAMPLE: AUTO

Approximately 2.4 times faster measuring speed compared to the CHOP Sweep function.

* Stray light originates from reflection and scattering on the surfaces of optical components inside optical instruments and their holders. As it is from factors other than normal refraction and reflection, it can be harmful to image formation.