소형·경량&터치 스크린
보기 쉽고 사용하기 쉬운 디자인
DLM3000 시리즈는 보기 쉽고 사용하기 쉬운 컴팩트한 오실로스코프 입니다.
- 인체공학에 근거한 세로형 디자인으로 설치 면적은 A4의 2/3
- 8.4형 TFT 컬러 액정 터치 패널(XGA)
- 4.5kg, 경량


터치스크린에서 직관적인 조작
8.4형 TFT 컬러 액정 터치 패널(XGA)을 채용해, 터치 방식의 유저 인터페이스로 직관적인 조작이 가능합니다. 커서, 줌 박스, 파형 표시 영역 등을 드랙, 핀치 조작으로 빠르게 설정할 수 있습니다.

파형 파라미터 항목 선택 예
핀치 조작으로 줌
아날로그 로직 동시 측정
하이브리드 채널
DLM3000 시리즈는 CH4의 아날로그 입력을 로직 8bit로 전환하여 아날로그 3ch&로직 8bit의 MSO(Mixed 시그널 오실로스코프)로서 기능합니다.
최대 11개 입력의 혼합 신호 분석
로직 입력을 사용하면 아날로그 3ch와 로직 8bit의 최대 11개의 입력 신호를 동시에 관측할 수 있습니다. 로직 입력을 데이터 신호/제어 신호의 관측 및 트리거 소스로 사용할 뿐만 아니라 로직 입력에서 I2C 버스 및 SPI 버스의 직렬 버스 분석도 가능합니다. 로직 입력을 사용할 때 최대 샘플 속도는 1.25GS/s입니다.
로직 프로브 PBL100, PBL250
로직 프로브 연결 예
최대 500M 포인트의 롱 메모리
장시간 측정과 2개 동시 줌 표시
오실로스코프에서 측정 시간과 레코드 길이 및 샘플 속도는 다음 공식으로 표시됩니다.
<기본 관계식> 측정 시간 = 레코드 길이 ÷ 샘플 속도
일반적으로 시간축 분해능을 떨어뜨려 측정 시간을 늘리면 레코드 길이가 제한되어 샘플 속도가 저하됩니다. 일련의 시퀀스의 검증 등 장시간 측정에 있어서, 샘플 레이트를 고속으로 유지하기 위해서는 롱 메모리가 필수 입니다.
500M 포인트의 메모리(4ch 모델, 옵션/M2)를 탑재한 경우, 싱글 모드 2ch 측정시에는 샘플 레이트 2.5GS/s에서도 최대 0.2초의 파형을 포착할 수 있습니다.
장시간 측정한 파형 데이터는 20만배까지 가능한 줌 배율을 개별적으로 설정할 수 있는 2개소 줌으로 상세하게 볼 수 있어 분석의 자유도가 넓어집니다.
롱 메모리에서 이상 위치를 찾는 검색 기능
롱 메모리에 캡처한 파형을 검색하고 검색 포인트가 포함된 파형을 줌 영역에 표시합니다. 검색된 파형의 위치는 화면에 표시됩니다(현재 위치는 ▼로 표시).
파형 검색 조건
에지/패턴/펄스 폭/타임아웃/시리얼 버스(시리얼 버스 해석 옵션 탑재 모델만)
과거 파형을 자동으로 기록하는 최대 100,000개의 히스토리 기능
지나간 과거의 파형도 자동적으로 기억. 이상 파형을 포착
일반적으로 오실로스코프는 트리거가 걸린 최신 화면을 표시하므로 과거 파형 데이터가 손실됩니다. DLM3000 시리즈는 사용자의 설정 없이 자동으로 과거에 캡처한 파형을 최대 100,000개, 획득 메모리에 유지할 수 있습니다. 히스토리 기능에서는 과거에 캡처한 파형(히스토리 파형) 중에서 지정한 1 파형을 화면에 표시하거나 모든 파형을 일괄하여 표시할 수 있습니다. 또한 히스토리 파형에 대해 커서 측정, 연산 등을 할 수 있습니다.
히스토리 기능은 다음과 같은 상황에서 매우 효과적입니다.
- 트리거링이 불가능하고 트리거 조건이 복잡해지고 DUT를 사용할 수 있는 시간이 제한됩니다.
- 엣지 트리거로 우선 보충하고 나중에 검색하여 원하는 파형을 꺼낼 수 있습니다.
- 복잡한 문제 분석
- 시계열마다 1장씩 해석할 수 있습니다.
- 히스토리 파형을 재생하면서 여러 채널에서의 현상을 과거에 추적함으로써 진정한 원인을 찾아낼 수 있습니다.
- 지터 관측
- 통상의 중첩(어큐뮬레이트) 기능에서는 지터의 존재는 관측할 수 있습니다, 하지만, 채널간의 관계나 시각은 알 수 없습니다. 히스토리 기능에서의 겹쳐쓰기 중에서 원하는 파형을 열어 채널 간의 관계 등을 커서 기능 등으로 확인할 수 있습니다.
보고 싶은 파형을 검색하는 히스토리 검색 기능
최대 100,000개의 히스토리 파형 중에서 조건에 맞는 파형을 검색하기 위해 다양한 검색 수단이 제공됩니다.
- 검색 조건을 4개까지 설정 가능
- 검색 조건과 일치하는 화면만 추출, 목록 표시 가능
- 검색한 파형 데이터는 커서나 measure 기능을 사용 가능
- 검색한 파형 데이터를 개별적으로 파일에 저장 가능
파형 검색의 조건 예
화면에 사각형 영역을 놓고 해당 영역을 통과하거나 통과하지 않은 상태에서 파형을 검색할 수 있습니다.
측정 파형을 위아래로 움직여 합성한 존에서 나온 파형을 검색할 수 있습니다.
히스토리 파형을 재생하는 리플레이 기능
히스토리 파형을 마치 동영상처럼 자동으로 재생, 정지, 빨리 감기, 되감기를 할 수 있습니다.
아날로그 디지털 혼합 복잡한 파형을 포착하는 트리거 기능
DLM3000 시리즈는 간편하고 간편하게 설정할 수 있는 엣지 트리거, 복잡한 현상을 파악할 수 있는 Enhanced 트리거 및 B 트리거 등 아날로그 입력과 로직 입력을 조합한 다양한 트리거 기능을 탑재하고 있습니다. DLM3000 시리즈는 디지털 트리거 방식을 채용하여 트리거 에러가 작아지고 있습니다.
트리거 기능 예
A to B(n) 트리거
조건 A 성립 후, 조건 B가 n회 성립했을 때에 트리거를 겁니다. 규격외의 영상 신호의 수직·수평 동기나 모터의 기준 위치 펄스와 구동 펄스 등 타이밍을 어긋나 측정하는데 유효합니다.
직렬 패턴 트리거(CAN FD의 경우)
다음 데이터로 트리거가 가능합니다.
- SOF: 프레임의 시작 위치에서 트리거
- 오류 프레임 : 오류 감지로 트리거
- ID : ID 비트 패턴으로 트리거
- ID OR : 다중 ID 비트 패턴의 OR 조건에서 트리거

노이즈 제거에 최적. 8kHz에서 200MHz까지 폭넓게 대응한 필터
많은 측정에서 선명한 파형을 얻기 위해 노이즈를 제거하는 것이 중요합니다. DLM3000 시리즈는 입력 회로에서 실시간으로 처리되는 필터와 연산 기능에 의한 필터의 2 종류를 탑재하고 있습니다. 불필요한 신호를 제거하고 필요한 대역만 관찰하는 데 효과적입니다.
실시간 필터
8kHz에서 200MHz까지 14종류의 로우패스 필터가 각 채널에 탑재되어 있습니다. 대역 제한된 파형이 내부 메모리에 유지됩니다.
컷오프 주파수:
200MHz/100MHz/20MHz/10MHz/5MHz/2MHz/1MHz/500kHz/250kHz/125kHz/62.5kHz/32kHz/16kHz/8kHz
연산에 의한 디지털 필터
연산 기능의 IIR 필터를 사용하여 입력 파형을 필터링합니다. 입력 파형과 필터링 후 연산 파형을 동시에 표시하고 비교할 수 있습니다. 저역 통과, 고역 통과 필터 선택 및 차단 주파수를 임의로 설정할 수 있습니다.
컷오프 주파수 설정 범위:
500MHz ~ 0.01Hz
줌 및 검색 기능
개별 배율로 2지점 동시 줌
DLM3000 시리즈는 최대 20만배 까지의 줌 배율을 개별적으로 설정할 수 있으므로 시간축 스케일이 다른 확대 파형을 2 지점에 대해 동시에 표시할 수 있습니다. 줌 1의 내부를 한층 더 줌 2로 표시하는 것(Zoom in Zoom)도 가능합니다.
또한 Auto Scroll 기능을 사용하면 롱 메모리로 캡처한 파형의 줌 표시 위치를 자동으로 스크롤하여 확대 위치를 이동할 수 있습니다.
Auto Scroll은 전진, 후퇴, 빨리 감기 등 이동 속도를 자유롭게 선택할 수 있습니다.
두 개의 파형 검색 기능으로 이상 파형을 서치
대용량 메모리에서 필요한 데이터를 추출하는 기능이 없으면 데이터 검색에 시간을 소비하고 긴 메모리를 효과적으로 활용할 수 없습니다. DLM3000 시리즈는 메모리가 길 뿐만 아니라 파형 검색 기능도 충실합니다.
1. 한 화면에서 데이터 검색: 줌 검색 기능 긴
메모리에 캡처한 파형을 검색하여 검색점이 포함된 파형을 줌 영역에 표시합니다. 검색된 파형의 위치는 화면에 표시됩니다(현재 위치는 ▼로 표시).
파형 검색 조건
엣지/패턴/펄스 폭/타임아웃/시리얼 버스(시리얼 버스 해석 옵션 탑재 모델만)

2. 히스토리 파형 검색: 히스토리 검색 기능
과거에 캡처한 최대 100,000 파형 중에서 조건을 지정하여 필요한 파형을 추출합니다.
파형 검색의 조건 예
화면에 사각형 영역을 놓고 해당 영역을 통과하거나 통과하지 않은 상태에서 파형을 검색할 수 있습니다.
측정 파형을 위아래로 움직여 합성한 존에서 나온 파형을 검색할 수 있습니다.
업무 효율 향상에 도움이 되는 기능
주요 기능
최대, 최소, Peak-Peak, 펄스 폭, 주기, 주파수, 상승/하강 시간, 듀티비 등 29종류의 파형 파라미터를 탑재하여 최대 30개의 파형 파라미터를 동시에 자동 측정할 수 있습니다.
통계 연산 기능
파형 파라미터의 자동 측정값에 대해 다음 5개 항목의 통계값을 표시합니다. 통계 처리의 대상이 될 수 있는 자동 측정 항목은 최대 9개입니다.
- 최대값(Max)
- 최소값(Min)
- 평균값(Mean)
- 표준편차( σ )
- 통계 처리의 대상으로 한 측정치의 수(Count)
◆ 파라미터 통계 연산
파형을 캡처하면서 그때까지 캡처한 모든 파형에 대해 통계 처리를 합니다.
◆ 사이클 통계 연산
자동적으로 계산으로 구해진 주기로, 표시되고 있는 파형을 단락지어, 단락지어진 1개 1개의 주기내의 측정치를 대상으로, 통계 처리합니다.
◆ 히스토리 통계 연산
선택한 히스토리 메모리의 각 트리거 파형의 파형 파라미터를 산출하여 통계 처리합니다.
트렌드 표시, 히스토그램 표시
파라미터 측정 결과는 수치로서의 표시 뿐만이 아니라, 트랜드나 히스토그램 표시를 할 수 있어 변화나 편차의 모습을 시각적으로 확인할 수 있습니다. 여러 파형 간의 주기, 펄스 폭, 진폭 등의 파형 파라미터 변동이나 한 화면 내의 파형의 주기 변동 등의 트렌드 표시하거나 값의 분포를 히스토그램으로 확인할 수 있습니다.
파형 파라미터의 (펄스 폭) 트렌드 표시 예
연산 기능
측정 파형 및 연산 파형에 대해 연산을 실시하여 연산 파형 또는 기준 파형을 2개까지 표시할 수 있습니다.
연산자
- 가감 곱셈
- 위상 시프트 / 이동 평균 / IIR 필터
- 적분
- 지정 파형의 에지 또는 지정 2 파형의 위상 변화의 카운트
- 사용자 정의(/G02 옵션)
커서 측정
표시된 파형에 커서를 대고 커서와 파형의 교점의 각종 측정값을 표시할 수 있습니다.
커서는 5종류를 준비
ΔV&ΔT 커서에서의 전압값, 시간차 측정 예
FFT 분석
최대 2개의 FFT 분석이 동시에 가능합니다. FFT는 CH1~CH4까지의 실제 파형 외에 연산 파형에 대해서도 실행할 수 있습니다. 필터를 걸어 대역 제한한 파형의 주파수 성분의 해석이나, 회전체의 주기 변동의 주파수 해석 등이 가능합니다. 자동 피크 검출도 가능합니다.
FFT 분석 예
스냅샷 – 원터치로 파형 남기기
화면 우측 하단의 "카메라 마크 일러스트" 키를 누르면 그때 표시되는 파형을 화면에 흰색 트레이스로 남길 수 있습니다. 키를 누를 때마다 화면에 추가되므로 여러 파형을 비교할 때 유용합니다.
또, 화면에 기록된 스냅샷의 데이터는 파일에 보존・읽어내기가 가능하므로, 비교용의 기준 파형으로서도 이용할 수 있습니다.
스냅샷 사용 예(흰 파형)
저장된 파일을 미리보기 이미지 표시
파형 데이터, 파형 이미지 데이터, Wave-Zone 파일의 썸네일이 화면에 표시됩니다. 이미지와 파일명이 표시되므로 화면 이미지를 확인하면서 파일을 복사하거나 삭제할 수 있습니다.
통상의 화면 사이즈 뿐만이 아니라, 시간축을 2배로 확대한 와이드 타입의 이미지 파일도 보존 가능합니다.
썸네일 표시 예
GO/NO-GO 기능과 액션 온 트리거 기능
트리거 조건, 존 파형, 파형 파라미터 등을 조건으로 합격 여부(GO/NO-GO)를 판정합니다.
액션 온 트리거 기능
NO-GO의 경우, 다음 액션을 병렬로 설정할 수 있습니다.
노이즈 제거에 최적. 8kHz에서 200MHz까지 폭넓게 대응한 필터
많은 측정에서 선명한 파형을 얻기 위해 노이즈를 제거하는 것이 중요합니다. DLM3000 시리즈는 입력 회로에서 실시간으로 처리되는 필터와 연산 기능에 의한 필터의 2 종류를 탑재하고 있습니다. 불필요한 신호를 제거하고 필요한 대역만 관찰하는 데 효과적입니다.
실시간 필터
8kHz에서 200MHz까지 14종류의 로우패스 필터가 각 채널에 탑재되어 있습니다. 대역 제한된 파형이 내부 메모리에 유지됩니다.
컷오프 주파수:
200MHz/100MHz/20MHz/10MHz/5MHz/2MHz/1MHz/500kHz/250kHz/125kHz/62.5kHz/32kHz/16kHz/8kHz
연산에 의한 디지털 필터
연산 기능의 IIR 필터를 사용하여 입력 파형을 필터링합니다. 입력 파형과 필터링 후 연산 파형을 동시에 표시하고 비교할 수 있습니다. 저역 통과, 고역 통과 필터 선택 및 차단 주파수를 임의로 설정할 수 있습니다.
컷오프 주파수 설정 범위:
500MHz ~ 0.01Hz
줌 및 검색 기능
개별 배율로 2지점 동시 줌
DLM3000 시리즈는 최대 20만배 까지의 줌 배율을 개별적으로 설정할 수 있으므로 시간축 스케일이 다른 확대 파형을 2 지점에 대해 동시에 표시할 수 있습니다. 줌 1의 내부를 한층 더 줌 2로 표시하는 것(Zoom in Zoom)도 가능합니다.
또한 Auto Scroll 기능을 사용하면 롱 메모리로 캡처한 파형의 줌 표시 위치를 자동으로 스크롤하여 확대 위치를 이동할 수 있습니다.
Auto Scroll은 전진, 후퇴, 빨리 감기 등 이동 속도를 자유롭게 선택할 수 있습니다.
두 개의 파형 검색 기능으로 이상 파형을 서치
대용량 메모리에서 필요한 데이터를 추출하는 기능이 없으면 데이터 검색에 시간을 소비하고 긴 메모리를 효과적으로 활용할 수 없습니다. DLM3000 시리즈는 메모리가 길 뿐만 아니라 파형 검색 기능도 충실합니다.
1. 한 화면에서 데이터 검색: 줌 검색 기능 긴
메모리에 캡처한 파형을 검색하여 검색점이 포함된 파형을 줌 영역에 표시합니다. 검색된 파형의 위치는 화면에 표시됩니다(현재 위치는 ▼로 표시).
파형 검색 조건
엣지/패턴/펄스 폭/타임아웃/시리얼 버스(시리얼 버스 해석 옵션 탑재 모델만)

2. 히스토리 파형 검색: 히스토리 검색 기능
과거에 캡처한 최대 100,000 파형 중에서 조건을 지정하여 필요한 파형을 추출합니다.
파형 검색의 조건 예
화면에 사각형 영역을 놓고 해당 영역을 통과하거나 통과하지 않은 상태에서 파형을 검색할 수 있습니다.
측정 파형을 위아래로 움직여 합성한 존에서 나온 파형을 검색할 수 있습니다.
업무 효율 향상에 도움이 되는 기능
주요 기능
최대, 최소, Peak-Peak, 펄스 폭, 주기, 주파수, 상승/하강 시간, 듀티비 등 29종류의 파형 파라미터를 탑재하여 최대 30개의 파형 파라미터를 동시에 자동 측정할 수 있습니다.
통계 연산 기능
파형 파라미터의 자동 측정값에 대해 다음 5개 항목의 통계값을 표시합니다. 통계 처리의 대상이 될 수 있는 자동 측정 항목은 최대 9개입니다.
- 최대값(Max)
- 최소값(Min)
- 평균값(Mean)
- 표준편차( σ )
- 통계 처리의 대상으로 한 측정치의 수(Count)
◆ 파라미터 통계 연산
파형을 캡처하면서 그때까지 캡처한 모든 파형에 대해 통계 처리를 합니다.
◆ 사이클 통계 연산
자동적으로 계산으로 구해진 주기로, 표시되고 있는 파형을 단락지어, 단락지어진 1개 1개의 주기내의 측정치를 대상으로, 통계 처리합니다.
◆ 히스토리 통계 연산
선택한 히스토리 메모리의 각 트리거 파형의 파형 파라미터를 산출하여 통계 처리합니다.
트렌드 표시, 히스토그램 표시
파라미터 측정 결과는 수치로서의 표시 뿐만이 아니라, 트랜드나 히스토그램 표시를 할 수 있어 변화나 편차의 모습을 시각적으로 확인할 수 있습니다. 여러 파형 간의 주기, 펄스 폭, 진폭 등의 파형 파라미터 변동이나 한 화면 내의 파형의 주기 변동 등의 트렌드 표시하거나 값의 분포를 히스토그램으로 확인할 수 있습니다.
파형 파라미터의 (펄스 폭) 트렌드 표시 예
연산 기능
측정 파형 및 연산 파형에 대해 연산을 실시하여 연산 파형 또는 기준 파형을 2개까지 표시할 수 있습니다.
연산자
- 가감 곱셈
- 위상 시프트 / 이동 평균 / IIR 필터
- 적분
- 지정 파형의 에지 또는 지정 2 파형의 위상 변화의 카운트
- 사용자 정의(/G02 옵션)
커서 측정
표시된 파형에 커서를 대고 커서와 파형의 교점의 각종 측정값을 표시할 수 있습니다.
커서는 5종류를 준비
ΔV&ΔT 커서에서의 전압값, 시간차 측정 예
FFT 분석
최대 2개의 FFT 분석이 동시에 가능합니다. FFT는 CH1~CH4까지의 실제 파형 외에 연산 파형에 대해서도 실행할 수 있습니다. 필터를 걸어 대역 제한한 파형의 주파수 성분의 해석이나, 회전체의 주기 변동의 주파수 해석 등이 가능합니다. 자동 피크 검출도 가능합니다.
FFT 분석 예
스냅샷 – 원터치로 파형 남기기
화면 우측 하단의 "카메라 마크 일러스트" 키를 누르면 그때 표시되는 파형을 화면에 흰색 트레이스로 남길 수 있습니다. 키를 누를 때마다 화면에 추가되므로 여러 파형을 비교할 때 유용합니다.
또, 화면에 기록된 스냅샷의 데이터는 파일에 보존・읽어내기가 가능하므로, 비교용의 기준 파형으로서도 이용할 수 있습니다.
스냅샷 사용 예(흰 파형)
저장된 파일을 미리보기 이미지 표시
파형 데이터, 파형 이미지 데이터, Wave-Zone 파일의 썸네일이 화면에 표시됩니다. 이미지와 파일명이 표시되므로 화면 이미지를 확인하면서 파일을 복사하거나 삭제할 수 있습니다.
통상의 화면 사이즈 뿐만이 아니라, 시간축을 2배로 확대한 와이드 타입의 이미지 파일도 보존 가능합니다.
썸네일 표시 예
GO/NO-GO 기능과 액션 온 트리거 기능
트리거 조건, 존 파형, 파형 파라미터 등을 조건으로 합격 여부(GO/NO-GO)를 판정합니다.
액션 온 트리거 기능
NO-GO의 경우, 다음 액션을 병렬로 설정할 수 있습니다.