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제품정보

요꼬가와는 1915년 창립이래 계측, 제어, 정보기술을 축으로
최첨단의 제품을 산업계에 제공함으로써 사회 발전에 공헌해오고 있습니다.

광 측정장비

AQ6150B / AQ6151B 광 파장미터

OPTICAL WAVELENGTH METER AQ6150B / AQ6151B Series

AQ6150B Series Optical Wave Length Meter는 900nm ~ 1700nm의 파장 범위를 가진 광학 장치와 시스템의 광 파장을 정확하게 측정하는 데 이상적인 기기입니다. AQ6150B 시리즈는 Michelson 간섭계와 고속 FFT 알고리즘을 사용함으로써 단일 파장 레이저 신호뿐만 아니라 DWDM 시스템과 Fabry-Perot 레이저의 다중 파장 레이저 신호를 측정할 수 있습니다. 또한 이 기술을 통해 광 트랜스시버의 CW 신호 외에도 변조된 레이저 신호를 측정할 수 있습니다. 최적화된 광학 설계 및 데이터 처리 루틴을 통해 측정 시간이 크게 단축되고 제조 처리량이 향상됩니다.

우수한 파장 측정 성능

모델파장범위파장정확도최대파장검출 수
표준모델
AQ6150B
표준1270~1650nm±0.7ppm1024 (멀티파장모델)
1 (싱글파장모델)
파장확장1200~1700nm
광대역900~1700nm

 

±0.7ppm의 파장 정확도

AQ6150B는 광 컴포넌트 및 WDM 전송 장치를 검사하는 데 필요한 정확도 요구 사항을 충족하기 위해 ±0.7ppm의 정확도를 제공합니다.
내장된 파장 기준 광원의 매우 안정된 광 파장을 기준으로 실시간 보정을 통해 AQ6150B는 장기간 높은 파장 측정 성능을 제공합니다.



모델파장범위파장정확도최대 파장 검출 수
고정확도 모델
AQ6151B
표준1270~1650nm±0.2ppm1024 (멀티파장모델)
1 (싱글파장모델)
파장확장1200~1700nm
광대역900~1700nm

 

±0.2ppm의 고파장 정확도

AQ6151B는 가장 엄격한 정확도 요구 사항을 충족하기 위해 ±0.2ppm의 정확도를 제공합니다.
내장된 파장 기준 광원의 매우 안정된 광 파장을 기준으로 실시간 보정을 통해 AQ6151B는 장기간 높은 파장 측정 성능을 제공합니다.

 

최대 1024 파장을 일괄 측정 가능한 멀티 파장 타입

AQ6150B는 최소 5GHz의 분해능으로 입력당 최대 1024파장까지 동시에 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다.
따라서 현재뿐만 아니라 미래의 WDM 전송 시스템 개발 및 생산 측정 요구에도 대응할 수 있습니다.
이 다파장 일괄 측정의 능력은 광 디바이스의 생산에 있어서도 생산의 효율화 및 비용 절감에 기여합니다.
예를 들어, 여러 개의 광 디바이스를 합파하여 측정하면 시간당 측정 디바이스 수가 증가하고 생산 처리량이 향상됩니다.
또한, 측정 시스템의 합리화에 의해 설비비나 내장 광원의 교환 비용 등의 유지비의 삭감을 기대할 수 있습니다.

 

단일 파장 타입

웨이퍼나 LD칩 출력의 검사에서는 단일 파장만을 측정하는 경우가 있습니다. 단일 파장 모델은 이러한 용도에 적합한 저비용 광파장계입니다.

 

변조광이나 필터의 측정에 대응

광전송 시스템이나 광트랜시버로부터 출력되는 10Gbps나 25Gbps, 나아가서는 100Gbps로 변조된 광신호는 광대역의 스펙트럼폭이기 때문에, 광 스펙트럼 해석을 실시하지 않는 단일 파장용 광파장계에서는 정확한 측정이 어렵습니다.
AQ6150B는 일반적인 CW 광 측정 모드 외에 광 스펙트럼 해석을 실시하는 변조 광 모드를 갖추고 있어 변조 신호 등 광대역 광 신호의 중심 파장을 정확하게 측정할 수 있습니다.
또한 이 변조된 광 모드는 AWG와 같은 필터의 중심 파장 측정에도 사용할 수 있습니다.

 

낮은 입력 파워에서도 고성능 유지

자동 이득 제어 기능이 탑재되어 AQ6150B는 입력 파워에 따라 자동으로 전기 증폭 회로의 게인을 조정합니다. 따라서 -40dBm의 낮은 입력 신호에서도 파장 정확도와 측정 속도를 극대화합니다.

 

0.2초의 고속 측정으로 처리량 향상

파장 가변 LD나 이를 이용한 광 모듈의 조정이나 특성 평가에서는 1 디바이스당 수백회에 달하는 광 파장 측정을 실시하기 때문에 고속 측정과 높은 처리 능력은 생산 처리량을 향상시키기 위해 특히 중요합니다. . AQ6150B는 0.2초 이내에 측정, 분석, PC로의 데이터 전송까지 수행할 수 있습니다. 이것은 당사 기존 모델의 2배의 속도입니다. 이것은 생산 처리량 향상에 크게 기여합니다. 또한 반복 측정 모드는 최대 초당 5회 측정할 수 있으므로 실시간으로 파장을 모니터링하면서 수행하는 장치의 조정 등에 매우 유용합니다.


측정 시스템 업그레이드가 용이

AQ6150B는 GP-IB 및 ETHERNET의 원격 제어 인터페이스를 사용하여 자동 측정 시스템을 쉽게 구축할 수 있습니다. 원격 제어에 사용되는 제어 명령은 계측기에 일반적으로 사용되는 Standard Commands for Programmable Instruments (SCPI)를 준수하므로 YOKOGAWA의 AQ6140 시리즈 광파장계 및 기타 SCPI 호환 광파장계 를 사용하는 경우, 측정 프로그램을 변경하는 번거로움을 없애, 측정 시스템의 업그레이드가 용이하게 실시할 수 있습니다.



고속측정을 통해 처리량 향상

장치당 수백 개의 파장 측정이 필요한 조정 가능한 레이저 소스와 조정 가능한 광 트랜스시버의 조정 및 특성화에 있어 고속 측정 및 처리 능력은 생산 처리량을 향상시키는 데 매우 중요합니다.

 

 두 모델 모두 0.2초 이내에 측정값을 PC에 수집, 분석 및 전송할 수 있습니다. 이는 AQ6150B 또는 AQ6151B 모델보다 2배 빠른 속도이므로 생산 처리량이 크게 향상됩니다. Repeat 측정 모드에서 AQ6150B 시리즈는 초당 10개의 측정치를 수집할 수 있으므로 실시간으로 파장을 모니터링 하면서 장치를 조정할 때 매우 유용합니다. 


상세


사용자 인터페이스

USB 포트

  • USB 호환 데이터 저장 장치, 마우스 및 키보드
  • 파일 기능을 사용하면 테스트 보고서를 작성할 때 사용할 데이터 및 스크린샷을 내장 메모리 또는 USB 스토리지에 저장할 수 있습니다. 스크린샷은 전면 패널에 있는 인쇄 화면 버튼(PRT SCN)을 눌러도 저장할 수 있습니다.

 상세


 

상세

시인성 높은 밝은 색상의 LCD

  • AQ6150B 시리즈 화면 디자인과 직관성은 요꼬가와의 베스트셀러 광학 스펙트럼 분석기에서 이어진 제품입니다.
  • 이 인터페이스는 제조 분야의 R&D 테스트 및 문제 해결과 같은 분야에서 전 세계적인 규모의 광범위한 사용자들에 의해 입증되었습니다.


상세

LAN을 통한 데이터 액세스

표준 LAN 포트를 사용하면 내장 메모리에 저장된 파일에 편리하게 액세스할 수 있을 뿐 아니라 PC에서 펌웨어를 원격으로 업데이트할 수 있습니다.


상세

마우스 사용

  • USB 마우스를 사용하면 측정 조건을 쉽고 직관적으로 변경하고, 분석을 실행하며, 광 스펙트럼 뷰를 수정할 수 있습니다.
  • 광학 스펙트럼 보기에서는 파형 보기 영역을 클릭과 드래그만으로 확대/축소하고 이동할 수 있습니다. 피크 검출을 위한 임계값인 피크 임계값 선도 동일한 방식으로 이동할 수 있습니다.


주요기능

항목
기능
  측정  싱글, 반복, 평균, 드리프트, 데이터 로깅
  측정 조건 설정  평균 카운트, 공기/진공 파장, 디바이스 타입 (CQ/변조), 측정 레인지
  디스플레이  단일 파장, 다중 파장, 델타, 그리드, 스펙트럼, 파장 축 단위, 광 파워 단위, 중심 파장, 전체 파워, 마커, 라벨, 파워 바, 경고 메시지, 에러 메시지, 시스템 정보
  데이터 분석  피크 검색, FP-LD 분석, 드리프트 분석, WDM(OSNR) 분석
  파일  측정 결과 (CSV) 저장/불러오기, 파라미터(바이너리) 저장/불러오기, 스크린 이미지 저장
  원격 제어  GPIB/이더넷 인터페이스, TCP/IP, 원격 모니터
  기타  내부 레퍼런스 광원 On/Off, 내부 레퍼런스 광원 상태 LED, 광파워 오프셋, 파라미터 초기화, 펌웨어 업데이트



다양한 디스플레이 모드

상세

단일 파장 모드

단일 파장 모드는 읽기 쉬운 큰 숫자를 사용하여 최고 피크 또는 임의 피크의 파장과 전력을 표시합니다. 이렇게 하면 장치가 테스트 스탠드 상단에 배치되어 있더라도 값을 쉽게 읽을 수 있습니다.


상세

다중 파장 모드

다중 파형 모드에서는 최대 피크의 파장과 전력 또는 임의 피크의 파장과 전력 목록이 목록 맨 위에 표시됩니다. 화면에 표시되는 채널 수를 최대화하기 위해 목록만 표시하는 모드도 있습니다. 


델타 파장 모드

델타 파형 모드는 기준 피크와 다른 피크의 차이를 파장과 전력 측면에서 계산하고 표시합니다. 이 모드는 피크 간격을 결정하는 데 도움이 됩니다.


다양한 측정 단위

다음 측정 단위 중 선택할 수 있습니다.

  • 파장: 파장(nm), 주파수(THz), 파형 번호(cm-1)
  • 파워: dBm, mW, μW
 
상세

그리드 모드

설정된 그리드 파장과 설정된 그리드 파장을 중심으로 설정된 검색 영역 내에 있는 측정된 파장 사이의 편차를 표시합니다.


상세

광 스펙트럼 보기

AQ6150B 시리즈는 FFT(Fast Fourier Transform) 알고리즘에서 얻은 광 스펙트럼 파형을 표시할 수 있습니다. 테스트 조건을 결정하고 실제 스펙트럼을 확인하는 동안 측정 오류를 해결할 수 있습니다. 목록에서 피크를 선택하면 피크가 자동으로 광 스펙트럼 보기의 중심으로 이동하여 보기 쉽고 편리합니다.


효율적인 측정 과 분석 기능

AQ6150 시리즈는 자동 측정 및 분석 기능을 갖추고 있습니다. 이러한 기능은 원격 제어 및 분석 프로그램을 생성/검증하는 데 귀중한 시간과 리소스를 절약합니다.


상세

드리프트 분석

드리프트 분석은 측정을 반복하여 시간에 따른 각 피크의 파장과 전력 변화를 측정합니다. 
최대값(MAX), 최소값(MIN) 및 변동(MAX-MIN)을 가져옵니다. 이 기능은 장기 안정성 테스트와 레이저의 온도 의존성 평가에 유용합니다.


상세

Fabry-Perot 레이저 분석

Fabry-Perot 레이저의 평가 파라미터는 측정된 광학 스펙트럼에서 즉시 분석 및 표시할 수 있습니다.
 
 결과에는 중심 파장, 총 전력, 스펙트럼 폭(FWHM), 모드 간격 등이 포함됩니다. 


상세

평균 측정

평균 측정은 측정을 반복하여 각 피크의 평균 파장과 전력을 얻습니다. 이 기능은 변조된 신호 또는 불안정한 신호에 대한 측정의 불확실성을 줄이는 데 도움이 됩니다.


상세

데이터 로깅 기능

채널당 최대 100001 포인트의 측정 데이터를 표 또는 그래프 형식으로 저장하고 표시할 수 있습니다. 장기 안정성 테스트와 온도 주기 테스트를 용이하게 합니다.




수명 주기 비용 절감

광파장계에 내장된 파장 기준 광원(He-Ne 레이저)은 정기적 교환이 필요하며, 교환의 빈도와 그 비용은 광파장계의 운영 비용(라이프사이클 비용)에 큰 영향을 주고 있다 합니다.
AQ6150B는 오른쪽 그림과 같이 도입시 초기 투자비용을 줄이는 것 외에도 파장 기준 광원의 교환주기의 연장과 저가의 교환 서비스의 제공으로 고객의 라이프 사이클 비용을 줄일 수 있습니다. 

 
모델설명
AQ6150BAQ6150B Optical Wavelength Meter
AQ6151BAQ6151B Optical Wavelength Meter

어플리케이션

WDM 전송 시스템

현재 및 차세대 통신 네트워크의 엄격한 요구를 충족시키기 위해, 개발자들은 전송 시스템의 효율성과 용량을 향상시켜야 하는 과제를 끊임없이 안고 있습니다. 이러한 과제에 대응하여, 정교한 변조 방식을 이용한 채널 간격 최소화, 채널 수 및 전송 속도 극대화 등 다양한 기법이 개발되었습니다.

WDM 트랜스미션 시스템 테스트에서 레이저 모듈 및 광 트랜스시버와 같은 시스템 내부 회로 기판과 시스템의 최종 출력 신호를 테스트하려면 높은 파장 정확도가 필요합니다. 여기에는 다음이 포함될 수 있습니다.

  • 다채널과 좁은 간격의 WDM 시스템을 동시에 측정합니다.
  • 레이저 소스의 정확한 조정 및 검사 • 변조된 신호의 측정입니다.


테스트 시스템 교정

AQ6150B 시리즈의 높은 정확도로 인해 다음을 포함한 정밀 파형 보정 애플리케이션에 사용할 수 있습니다.

  • 광학적 스펙트럼 분석기의 보정입니다.
  • 광학적 앰프 테스트 시스템을 위한 DFB 레이저를 보정합니다.
  • 패시브 구성 요소 테스트 시스템을 위한 조정 가능한 레이저를 보정합니다.


레이저 / 광 트랜시버

레이저 장치, 레이저 모듈 및 광 트랜스시버와 같은 WDM 전송 시스템에 사용되는 광학 구성 요소도 테스트하려면 높은 파장의 정확도가 필요합니다. 이러한 애플리케이션에는 다음이 포함될 수 있습니다.

  • 조정 가능한 레이저의 정확한 조정 및 검사를 실시합니다.
  • 광학적 트랜스시버 및 트랜스폰더의 신호 측정을 변조했습니다.
  • WDM 기술로 40G 및 100G 광 트랜스시버의 모든 채널을 측정합니다.
 
상세



측정원리

상세

Michelson 간섭계

고정 미러와 이동식 미러 사이의 광 경로 길이 차이를 변경하여 간섭을 생성합니다. 그런 다음 광학 수신기를 사용하여 간섭 신호를 감지합니다.
 

고속 퓨리에 변환 (FFT)

간섭 신호(interferogram)를 광 스펙트럼 파형으로 변환합니다.
 

고속 데이터 처리

지정된 광 스펙트럼 파형을 분석합니다.
 그런 다음 입력 신호의 파장과 전력 데이터를 출력합니다.
 

실시간 파장 보정

입력 신호를 측정하는 동안 기준 파장의 간섭 신호를 동시에 측정하여 측정 오류를 수정합니다.
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