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OPTICAL WAVELENGTH METER AQ6150B / AQ6151B Series
AQ6150B Series Optical Wave Length Meter는 900nm ~ 1700nm의 파장 범위를 가진 광학 장치와 시스템의 광 파장을 정확하게 측정하는 데 이상적인 기기입니다. AQ6150B 시리즈는 Michelson 간섭계와 고속 FFT 알고리즘을 사용함으로써 단일 파장 레이저 신호뿐만 아니라 DWDM 시스템과 Fabry-Perot 레이저의 다중 파장 레이저 신호를 측정할 수 있습니다. 또한 이 기술을 통해 광 트랜스시버의 CW 신호 외에도 변조된 레이저 신호를 측정할 수 있습니다. 최적화된 광학 설계 및 데이터 처리 루틴을 통해 측정 시간이 크게 단축되고 제조 처리량이 향상됩니다.
모델 | 파장범위 | 파장정확도 | 최대파장검출 수 | |
표준모델 AQ6150B | 표준 | 1270~1650nm | ±0.7ppm | 1024 (멀티파장모델) 1 (싱글파장모델) |
파장확장 | 1200~1700nm | |||
광대역 | 900~1700nm |
AQ6150B는 광 컴포넌트 및 WDM 전송 장치를 검사하는 데 필요한 정확도 요구 사항을 충족하기 위해 ±0.7ppm의 정확도를 제공합니다.
내장된 파장 기준 광원의 매우 안정된 광 파장을 기준으로 실시간 보정을 통해 AQ6150B는 장기간 높은 파장 측정 성능을 제공합니다.
모델 | 파장범위 | 파장정확도 | 최대 파장 검출 수 | |
고정확도 모델 AQ6151B | 표준 | 1270~1650nm | ±0.2ppm | 1024 (멀티파장모델) 1 (싱글파장모델) |
파장확장 | 1200~1700nm | |||
광대역 | 900~1700nm |
AQ6151B는 가장 엄격한 정확도 요구 사항을 충족하기 위해 ±0.2ppm의 정확도를 제공합니다.
내장된 파장 기준 광원의 매우 안정된 광 파장을 기준으로 실시간 보정을 통해 AQ6151B는 장기간 높은 파장 측정 성능을 제공합니다.
AQ6150B는 최소 5GHz의 분해능으로 입력당 최대 1024파장까지 동시에 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다.
따라서 현재뿐만 아니라 미래의 WDM 전송 시스템 개발 및 생산 측정 요구에도 대응할 수 있습니다.
이 다파장 일괄 측정의 능력은 광 디바이스의 생산에 있어서도 생산의 효율화 및 비용 절감에 기여합니다.
예를 들어, 여러 개의 광 디바이스를 합파하여 측정하면 시간당 측정 디바이스 수가 증가하고 생산 처리량이 향상됩니다.
또한, 측정 시스템의 합리화에 의해 설비비나 내장 광원의 교환 비용 등의 유지비의 삭감을 기대할 수 있습니다.
웨이퍼나 LD칩 출력의 검사에서는 단일 파장만을 측정하는 경우가 있습니다. 단일 파장 모델은 이러한 용도에 적합한 저비용 광파장계입니다.
광전송 시스템이나 광트랜시버로부터 출력되는 10Gbps나 25Gbps, 나아가서는 100Gbps로 변조된 광신호는 광대역의 스펙트럼폭이기 때문에, 광 스펙트럼 해석을 실시하지 않는 단일 파장용 광파장계에서는 정확한 측정이 어렵습니다.
AQ6150B는 일반적인 CW 광 측정 모드 외에 광 스펙트럼 해석을 실시하는 변조 광 모드를 갖추고 있어 변조 신호 등 광대역 광 신호의 중심 파장을 정확하게 측정할 수 있습니다.
또한 이 변조된 광 모드는 AWG와 같은 필터의 중심 파장 측정에도 사용할 수 있습니다.
자동 이득 제어 기능이 탑재되어 AQ6150B는 입력 파워에 따라 자동으로 전기 증폭 회로의 게인을 조정합니다. 따라서 -40dBm의 낮은 입력 신호에서도 파장 정확도와 측정 속도를 극대화합니다.
파장 가변 LD나 이를 이용한 광 모듈의 조정이나 특성 평가에서는 1 디바이스당 수백회에 달하는 광 파장 측정을 실시하기 때문에 고속 측정과 높은 처리 능력은 생산 처리량을 향상시키기 위해 특히 중요합니다. . AQ6150B는 0.2초 이내에 측정, 분석, PC로의 데이터 전송까지 수행할 수 있습니다. 이것은 당사 기존 모델의 2배의 속도입니다. 이것은 생산 처리량 향상에 크게 기여합니다. 또한 반복 측정 모드는 최대 초당 5회 측정할 수 있으므로 실시간으로 파장을 모니터링하면서 수행하는 장치의 조정 등에 매우 유용합니다.
AQ6150B는 GP-IB 및 ETHERNET의 원격 제어 인터페이스를 사용하여 자동 측정 시스템을 쉽게 구축할 수 있습니다. 원격 제어에 사용되는 제어 명령은 계측기에 일반적으로 사용되는 Standard Commands for Programmable Instruments (SCPI)를 준수하므로 YOKOGAWA의 AQ6140 시리즈 광파장계 및 기타 SCPI 호환 광파장계 를 사용하는 경우, 측정 프로그램을 변경하는 번거로움을 없애, 측정 시스템의 업그레이드가 용이하게 실시할 수 있습니다.
장치당 수백 개의 파장 측정이 필요한 조정 가능한 레이저 소스와 조정 가능한 광 트랜스시버의 조정 및 특성화에 있어 고속 측정 및 처리 능력은 생산 처리량을 향상시키는 데 매우 중요합니다.
두 모델 모두 0.2초 이내에 측정값을 PC에 수집, 분석 및 전송할 수 있습니다. 이는 AQ6150B 또는 AQ6151B 모델보다 2배 빠른 속도이므로 생산 처리량이 크게 향상됩니다. Repeat 측정 모드에서 AQ6150B 시리즈는 초당 10개의 측정치를 수집할 수 있으므로 실시간으로 파장을 모니터링 하면서 장치를 조정할 때 매우 유용합니다.
USB 포트
시인성 높은 밝은 색상의 LCD
LAN을 통한 데이터 액세스
표준 LAN 포트를 사용하면 내장 메모리에 저장된 파일에 편리하게 액세스할 수 있을 뿐 아니라 PC에서 펌웨어를 원격으로 업데이트할 수 있습니다.마우스 사용
항목 | 기능 |
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측정 | 싱글, 반복, 평균, 드리프트, 데이터 로깅 |
측정 조건 설정 | 평균 카운트, 공기/진공 파장, 디바이스 타입 (CQ/변조), 측정 레인지 |
디스플레이 | 단일 파장, 다중 파장, 델타, 그리드, 스펙트럼, 파장 축 단위, 광 파워 단위, 중심 파장, 전체 파워, 마커, 라벨, 파워 바, 경고 메시지, 에러 메시지, 시스템 정보 |
데이터 분석 | 피크 검색, FP-LD 분석, 드리프트 분석, WDM(OSNR) 분석 |
파일 | 측정 결과 (CSV) 저장/불러오기, 파라미터(바이너리) 저장/불러오기, 스크린 이미지 저장 |
원격 제어 | GPIB/이더넷 인터페이스, TCP/IP, 원격 모니터 |
기타 | 내부 레퍼런스 광원 On/Off, 내부 레퍼런스 광원 상태 LED, 광파워 오프셋, 파라미터 초기화, 펌웨어 업데이트 |
단일 파장 모드
단일 파장 모드는 읽기 쉬운 큰 숫자를 사용하여 최고 피크 또는 임의 피크의 파장과 전력을 표시합니다. 이렇게 하면 장치가 테스트 스탠드 상단에 배치되어 있더라도 값을 쉽게 읽을 수 있습니다.다중 파장 모드
다중 파형 모드에서는 최대 피크의 파장과 전력 또는 임의 피크의 파장과 전력 목록이 목록 맨 위에 표시됩니다. 화면에 표시되는 채널 수를 최대화하기 위해 목록만 표시하는 모드도 있습니다.델타 파장 모드
델타 파형 모드는 기준 피크와 다른 피크의 차이를 파장과 전력 측면에서 계산하고 표시합니다. 이 모드는 피크 간격을 결정하는 데 도움이 됩니다.
다양한 측정 단위
다음 측정 단위 중 선택할 수 있습니다.
그리드 모드
광 스펙트럼 보기
AQ6150B 시리즈는 FFT(Fast Fourier Transform) 알고리즘에서 얻은 광 스펙트럼 파형을 표시할 수 있습니다. 테스트 조건을 결정하고 실제 스펙트럼을 확인하는 동안 측정 오류를 해결할 수 있습니다. 목록에서 피크를 선택하면 피크가 자동으로 광 스펙트럼 보기의 중심으로 이동하여 보기 쉽고 편리합니다.효율적인 측정 과 분석 기능
AQ6150 시리즈는 자동 측정 및 분석 기능을 갖추고 있습니다. 이러한 기능은 원격 제어 및 분석 프로그램을 생성/검증하는 데 귀중한 시간과 리소스를 절약합니다.
드리프트 분석
드리프트 분석은 측정을 반복하여 시간에 따른 각 피크의 파장과 전력 변화를 측정합니다.Fabry-Perot 레이저 분석
Fabry-Perot 레이저의 평가 파라미터는 측정된 광학 스펙트럼에서 즉시 분석 및 표시할 수 있습니다.평균 측정
평균 측정은 측정을 반복하여 각 피크의 평균 파장과 전력을 얻습니다. 이 기능은 변조된 신호 또는 불안정한 신호에 대한 측정의 불확실성을 줄이는 데 도움이 됩니다.데이터 로깅 기능
채널당 최대 100001 포인트의 측정 데이터를 표 또는 그래프 형식으로 저장하고 표시할 수 있습니다. 장기 안정성 테스트와 온도 주기 테스트를 용이하게 합니다.광파장계에 내장된 파장 기준 광원(He-Ne 레이저)은 정기적 교환이 필요하며, 교환의 빈도와 그 비용은 광파장계의 운영 비용(라이프사이클 비용)에 큰 영향을 주고 있다 합니다.
AQ6150B는 오른쪽 그림과 같이 도입시 초기 투자비용을 줄이는 것 외에도 파장 기준 광원의 교환주기의 연장과 저가의 교환 서비스의 제공으로 고객의 라이프 사이클 비용을 줄일 수 있습니다.
모델 | 설명 |
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AQ6150B | AQ6150B Optical Wavelength Meter |
AQ6151B | AQ6151B Optical Wavelength Meter |
WDM 전송 시스템
현재 및 차세대 통신 네트워크의 엄격한 요구를 충족시키기 위해, 개발자들은 전송 시스템의 효율성과 용량을 향상시켜야 하는 과제를 끊임없이 안고 있습니다. 이러한 과제에 대응하여, 정교한 변조 방식을 이용한 채널 간격 최소화, 채널 수 및 전송 속도 극대화 등 다양한 기법이 개발되었습니다.
WDM 트랜스미션 시스템 테스트에서 레이저 모듈 및 광 트랜스시버와 같은 시스템 내부 회로 기판과 시스템의 최종 출력 신호를 테스트하려면 높은 파장 정확도가 필요합니다. 여기에는 다음이 포함될 수 있습니다.
테스트 시스템 교정
AQ6150B 시리즈의 높은 정확도로 인해 다음을 포함한 정밀 파형 보정 애플리케이션에 사용할 수 있습니다.
레이저 / 광 트랜시버
레이저 장치, 레이저 모듈 및 광 트랜스시버와 같은 WDM 전송 시스템에 사용되는 광학 구성 요소도 테스트하려면 높은 파장의 정확도가 필요합니다. 이러한 애플리케이션에는 다음이 포함될 수 있습니다.
Michelson 간섭계
고정 미러와 이동식 미러 사이의 광 경로 길이 차이를 변경하여 간섭을 생성합니다. 그런 다음 광학 수신기를 사용하여 간섭 신호를 감지합니다.고속 퓨리에 변환 (FFT)
간섭 신호(interferogram)를 광 스펙트럼 파형으로 변환합니다.고속 데이터 처리
지정된 광 스펙트럼 파형을 분석합니다.실시간 파장 보정
입력 신호를 측정하는 동안 기준 파장의 간섭 신호를 동시에 측정하여 측정 오류를 수정합니다.