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제품정보

요꼬가와는 1915년 창립이래 계측, 제어, 정보기술을 축으로
최첨단의 제품을 산업계에 제공함으로써 사회 발전에 공헌해오고 있습니다.

광스펙트럼 아날라이저

AQ6361 Telecom Production Optical Spectrum Analyzer

AQ6361은 광통신에 사용되는 레이저 칩, 광 트랜시버, 광섬유 증폭기 등 광 디바이스 생산 라인에서의 시험 및 검사에 최적인 광 스펙트럼 분석기입니다.


• 파장분해능 :  0.05~2 nm(표준 모델) / 0.03~2 nm(고성능 모델)

• 파장 범위   : 1200~1700 nm(SW 타입) / 700~1700 nm(EW 타입) 

• 레벨 레인지:+20~-80 dBm

• 기존 대비 최대 20배의 고속 측정(CW광)

• 싱글모드에서 멀티모드까지 가능 

측정 속도의 고속화


CW광에 특화한 감도 모드[RAPID]의 탑재에 의해  기존 모델 대비 최대 20배의 속도로 측정할 수 있습니다. 광 스펙트럼 측정에 걸리는 시간을 단축하여 고객의 생산 효율을 향상시킵니다. 



기존 모델과의 비교

(SPAN 100 nm, 샘플 포인트 수 25001, 평균화 횟수 1, 노이즈 레벨 약 -60 dBm에 있어서의 참고치)



생산 라인의 공간 절약

AQ6370E의 절반 이하의 사이즈로 소형화하여 표준 수납 랙에 2대 탑재할 수 있습니다. 복잡한 생산 라인과 칩 테스터에서의 사용 부피를 줄여 공간을 효율적으로 줄일 수 있습니다. .






다양한 광학 장치에 사용 가능 

측정 용도에 따라 0.03nm(고성능 모델)에서 2nm 범위에서 파장 분해능을 설정할 수 있습니다. 또한 73dB이 높은 미광 억제 성능(고성능 모델)을 통해 높은 다이나믹 레인지 측정이 가능합니다. 







싱글모드 및 멀티모드 광섬유에 대응 

광 입력부에 프리 스페이스 구조를 채용해 싱글모드 및 멀티모드의 광섬유, 대구경의 광섬유에 PC 커넥터와 Angled PC 커넥터를 전부 사용할 수 있습니다. 따라서 연결된 광섬유 유형이 변경 되더라도 AQ6361을 사용할 수 있습니다. 



높은 파장의 정확도 유지

AQ6361에는 사용 환경의 변화에 따른 파장 오차를 자동 보정하는 파장 교정 기능이 탑재되어 있습니다. 파장 교정은 외부 광원을 사용할 수 있지만, 옵션의 파장 교정 광원을 내장하는 것으로 보다 용이하게 실시할 수 있습니다.



현장 조작과 원격 조작이 가능 

외부 모니터와 마우스를 연결하여 현장에서 직접 조작할 수 있습니다. 

또한 웹 서버 기능을 통해 네트워크에 연결된 AQ6361을 소프트웨어가 필요 없으며 원격 제어 및 원격 모니터링 할 수 있습니다. 





외부 기기와의 연계

트리거 신호의 입력 및 출력에 대응하며, 외부로부터의 트리거 신호에 동기 측정이나 스위프 상태의 출력이 가능합니다. 다른 기기와의 동기화 및 자동 제어가 가능합니다.
또한 Digital I/O에도 대응하고 있습니다. 



원격  조정의 높은 호환성

이더넷 포트와 GP-IB(옵션)를 탑재하고 있습니다. 표준 원격  커멘드는 IEEE-488.2 호환 SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments)를 준수합니다.  기존  AQ6370/AQ6380 시리즈나 AQ6317 시리즈와의 호환성이 있어 기존 시스템으로부터의 이행도 용이합니다. LabVIEW®, MATLAB®, Python을 통한 조정도 가능합니다.



프로그램이 필요 없는 데이터 분석 기능 

다양한 광학 장치 및 광학 시스템의 광 스펙트럼 특성을 평가하기 위한 분석 기능이 내장되어 있습니다. 고객 스스로 해석 기능을 프로그래밍할 필요 없이 생산 라인의 설계 시간을 단축할 수 있습니다. 



커넥터 어댑터 AQ9447



커넥터 어댑터 AQ9441 



NA 변환 어댑터

735385 NA 변환 어댑터는 AQ6370 시리즈 / AQ6361 / AQ6360 광 스펙트럼 분석기 전용 액세서리입니다.

상대적으로 큰 NA를 가진 GI50 또는 GI62.5 다중 모드 광섬유에 NA 변환 어댑터를 연결하면 광 레벨 측정의 안정성을 향상시킬 수 있습니다. 


랙 마운트 키트 751533-E3 

 - EIA 단일장비용 

 - 판매단위 1개


랙 마운트 키트 751533-J3 

 - JIS 단일장비용 

 - 판매단위 1개


랙 마운트 키트 751534-E3

 - EIA 연결장치용

- 판매단위 : 1개


랙 마운트 키트 751534-J4

 - JIS 연결장치용

- 판매단위 : 1개 

  



AQ6361은 다양한 광학 부품 및 광학 장치와 같은 평가 및 검사에 적합합니다. 



LD 칩의 공간광 측정

AQ6361의 자유 공간 구조는 단일 모드 광섬유와 다중 모드 광섬유에 전부 사용할 수 있습니다. LD 칩이나 TOSA로부터 공간 출력되는 레이저 빔의 코어 직경이 넓은 멀티 모드 파이버를 사용해 효율적으로 캡처할 수 있습니다. 



LD칩의 공간광 계측




고성능 광학 장치의 광 스펙트럼 평가

고성능화가 진행되는 ITLA와 같은 광학 디바이스는 성능을 평가하기 위해 고성능 계측기가 필요합니다. AQ6361은 높은 파장 분해능과 파장 정확도로 고성능 광학 장치를 평가하는데도 사용할 수 있습니다. 




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