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제품정보

요꼬가와는 1915년 창립이래 계측, 제어, 정보기술을 축으로
최첨단의 제품을 산업계에 제공함으로써 사회 발전에 공헌해오고 있습니다.

광 측정장비

AQ7420 고해상도 반사계

AQ7420 고해상도 반사계

•  측정 거리: 100mm

•  공간 분해능: 40 μm

•  반사 감쇠량 불확도: ±3 dB

•  스퓨리어스 노이즈:<-100 dB

실제로는 반사가 없는 부분에 반사가 있는 것 같은 파형이 취득되는 노이즈(스퓨리어스 노이즈)를 대폭 개선해, 파형 해석이나 검사에 대한 오류를 저감시킵니다.

•  반사/삽입 손실 일괄 측정

옵션 센서 헤드를 결합하면 반사 감쇠량과 삽입 손실을 동시에 측정할 수 있습니다.

옵션인 멀티스위치 유니트와 조합하면 다심 측정이 가능합니다.


스퓨리어스 노이즈 감소

기존의 일부 반사계에서는 실제 반사가 없는 영역에도 허위 노이즈가 나타날 수 있습니다. 파형 분석을 위해서는 이러한 현상에 대한 전문적인 지식이 필요한 경우가 많습니다.  AQ7420은 이러한 허위 노이즈를 크게 줄여 분석을 간소화합니다.

  • 측정 거리: 100mm (약 4인치)
  • 공간 해상도: 40 μm
  • 허위 노이즈: -100dB는 거짓(고스트) 효과를 방지합니다.


다중 반사 및 삽입 손실의 동시 측정

기존의 반사율 측정기는 수직축(후면 반사) 측정 정확도가 낮아 반사 감쇠 검사에 적합하지 않았습니다. AQ7420은 ±3dB의 불확도 내에서 측정이 가능하며, 광학 센서 헤드를 사용하면 커넥터 연결 손실도 ±0.02dB의 불확도 내에서 동시에 측정할 수 있습니다.


다중 섬유 측정

옵션 사양인 멀티 스위치 유닛과 결합하면 다중 광섬유 측정이 가능해집니다.
채널 전환 시간: 1초 ,
채널 전환 반복 정밀도: ±0.02dB,
삽입 손실: ≤ 2.6dB


광 커넥터의 미세 균열 분석

AQ7420은 광 커넥터의 단선, 균열, 손실 및 반사를 동시에 측정합니다.



광 커넥터 미세 균열 분석 | AQ7420 고해상도 반사계 | 요코가와 테스트&측정

광 커넥터 미세 균열 분석 | AQ7420 고해상도 반사계 | 요코가와 테스트&측정

광 커넥터의 미세 균열 측정 예시 (고감도 범위)


RL 및 IL 측정을 한 단계로

AQ7420/AQ7421을 AQ740023 센서 헤드와 결합하면 단일 시스템으로 두 파장에서 반사 손실과 삽입 손실을 동시에 자동으로 측정할 수 있습니다. 스퓨리어스 제거 및 고감도 성능을 통해 이 시스템은 불량품(반사 피크 없음)과 정상품을 명확하게 구분합니다. 또한 제어 소프트웨어는 검사 보고서를 생성하여 품질 관리를 간소화합니다.



RL 및 IL 측정을 한 단계로


다중 광섬유 장치에 대한 이중 파장 RL 및 IL 측정 










AQ740027과 함께 사용하면 AQ7420/AQ7421은 스플리터와 같은 여러 광섬유 및 장치를 자동으로 검사할 수 있습니다.

여러 포트에서 반사 손실과 삽입 손실을 동시에 측정할 수 있으므로 수동 재연결이나 전환이 필요 없어 버튼 하나만 누르면 여러 포트를 테스트할 수 있어 효율성이 극대화됩니다.


광학 장치에서의 부품 위치 및 반사 분석



높은 공간 해상도, 잡음 없는 작동 및 선명한 파형을 갖춘 AQ7420은 광학 장치 내부의 구성 요소 위치를 정밀하게 식별하고 가장자리에서 발생하는 반사광을 측정합니다.

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